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清潔度分析系統(tǒng)

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產(chǎn)品參數(shù)

產(chǎn)品編號: Emspira所屬品牌: Leica
產(chǎn)品型號: 額定功率:按實際方案提供
所屬類別: 清潔度分析系統(tǒng)所屬用途: 金相組織觀察
應用領域:
產(chǎn)品特性: 徠卡顯微系統(tǒng)公司的清潔度分析系統(tǒng)可提供優(yōu)化的軟件和獨特的目視與化學分析二合一解決方案。

徠卡Emspira清潔度分析系統(tǒng)

Cleanliness Analysis Systems

快速發(fā)現(xiàn)污染源

 

汽車與電子行業(yè)供應商和制造商可以使用有效可靠的技術清潔度解決方案來分析顆粒數(shù)量、尺寸和成分,確保提高產(chǎn)品性能和使用壽命。 徠卡顯微系統(tǒng)公司的清潔度分析系統(tǒng)可提供優(yōu)化的軟件和獨特的目視與化學分析二合一解決方案。

 

您將獲得的優(yōu)勢

 

  • 在更短的時間內(nèi)進行更多的分析,提高通量。
  • 更好地了解顆粒來源,改善風險評估,做出更有信心的決定。
  • 滿足您當前的所有需求,并為不斷變化的需求做好準備。

更快獲得結果

確保更有效地獲得清潔度分析結果:

  • 對于大小介于5-10微米之間的顆粒,可節(jié)省30%的過濾器樣本掃描時間。
  • 對于大小超過25微米的顆粒,對過濾器樣本上顆粒物的掃描速度可以提高3倍。

更快地識別過濾器樣本上的反光顆粒,通過優(yōu)化算法更快地計算不規(guī)則形狀顆粒的圓形直徑。

通過自動分析多個過濾器樣本的顆粒進一步簡化您的工作流程,通過每批次同時分析多個過濾器來節(jié)省時間。

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